| Course Name | Year | Term | Period | Faculty / Graduate School | All Instructors | Credits |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 32834:[2025 Fall]Basic Integrated Device Engineering (6T) | 2025 | Fall | Wed2 | College of Science and Engineering | FUJINO TAKESHI | 2 |
Campus
Class Venue
Language
Course Outline and Method
対面授業を行う.
Student Attainment Objectives
・LSIの内部を構成するMOSトランジスタの特性の理解とそれらを組み合わせた論理回路の構成方法を修得できる.
・LSIの機能以外の特性として必要な動作速度や消費電力がどのようにして決まるのかを理解できる.
・電子情報工学実験Ⅱの「デバイス・アナログ実験」に必要な知識を得られる.
Recommended Preparatory Course
電子情報工学科の学生は電子情報工学実験Ⅱの理解のために必要なので,履修すること.
Course Schedule
| Lecture/Instructor(When there are multiple instructors) | Theme |
|---|---|
| Keyword, References and Supplementary Information | |
| - | +R授業対象科目。+R授業として第1回~13回までmanaba+Rでドリルの出題をし,次回授業で解説を行う. |
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| 1 | ガイダンス& 集積回路とは(1) |
真空管,トランジスタの発明,集積回路 |
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| 2 | 集積回路とは(2) |
集積回路の設計から製造までの流れ |
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| 3 | MOSトランジスタの動作原理 |
MOS構造,しきい値電圧,MOSトランジスタの記号 |
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| 4 | MOSトランジスタの特性 |
MOSトランジスタの電気的特性,相互コンダクタンス |
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| 5 | CMOSインバータ(1)+小テスト(1) |
インバータの構成,CMOSインバータの入出力特性, |
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| 6 | CMOSインバータ(2)+CMOSスタティック基本ゲート(1) |
雑音余裕,多段接続による論理レベルの再生,NAND,NOR,EXOR |
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| 7 | CMOSスタティック基本ゲート(2) |
複合ゲート,トランスミッションゲート,セレクタ |
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| 8 | CMOS組み合わせ論理回路 |
複合ゲート,トランスミッションゲート,セレクタ |
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| 9 | ラッチとフリップフロップ |
ラッチとフリップフロップの種類,Dラッチ,Dフリップフロップ |
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| 10 | プロセスフローとCMOSレイアウト設計+小テスト(2) |
CMOSトランジスタのプロセスフロー,レイアウト |
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| 11 | メモリ回路 |
メモリの分類,SRAM,DRAM,フラッシュメモリ |
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| 12 | スイッチング特性と同期設計 |
伝搬遅延時間,クロックと同期設計,セットアップ時間,同期回路の最高動作周波数 |
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| 13 | 消費電力 |
動的消費電力,充放電電力,貫通電力,静的消費電力 |
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| 14 | 理解度確認テスト |
第1回から第13回までの講義の内容の理解度を確認するテストを行い,解説する |
Class Format
Recommendations for Private Study
(1)第1回,第5回,第10回にレジュメを配布します
(2)対面授業を聞きながらレジュメに書き込みを行う.
(随時教科書参照すること,授業で使用するPowerPointスライドもmanabaでダウンロード可能)
(3)レジュメに掲載されている内容の確認・練習問題等を行う.
(4)manaba+Rに掲載されているドリル(小テスト機能を使用)を提出することで復習する.ドリルは期限内であれば何回でも提出可能なので,90%程度以上の成績になるまで努力することが望まれる.
*授業内容に対する質問事項があれば,掲示板で質問してください.
Grade Evaluation Method
| Kind | Percentage | Grading Criteria etc. |
|---|---|---|
| Final Examination (Written) | 0 | |
| Report Examination (A report to be submitted by the unified deadline) |
0 | |
| Exams and/or Reports other than those stated above, and Continuous Assessment (Evaluation of Everyday Performance in Class) |
100 | manaba+R上にアップロードされている毎回の小テスト(ドリル)の提出状況と,3回の理解度確認テストの結果で平常点評価を行う. |
Grade Evaluation Method (Note)
Advice to Students on Study and Research Methods
Textbooks
| Title | Author | Publisher | ISBN Code | Comment |
|---|---|---|---|---|
| OHM大学テキスト集積回路工学 | 吉本雅彦 | オーム社 | 978-4-274-21427-1 |
Textbooks (Frequency of Use, Note)
Reference Books
| Title | Author | Publisher | ISBN Code | Comment |
|---|---|---|---|---|
| 基礎からの半導体デバイス | 和保孝夫他 | 日新出版 | ISBN978-4-8173-0232-8 | |
| 半導体デバイス工学 | 谷口研二,宇野重康 | 昭晃堂 | ISBN4-7856-1209-6 |
Reference Books (Frequency of Use, Note)
Web Pages for Reference
How to Communicate with the Instructor In and Out of Class(Including Instructor Contact Information)
Other Comments
URL:https://secure.ritsumei.ac.jp/students/pathways-future/course/curriculum.html/